JPH0623977Y2 - プローブカード - Google Patents

プローブカード

Info

Publication number
JPH0623977Y2
JPH0623977Y2 JP20128387U JP20128387U JPH0623977Y2 JP H0623977 Y2 JPH0623977 Y2 JP H0623977Y2 JP 20128387 U JP20128387 U JP 20128387U JP 20128387 U JP20128387 U JP 20128387U JP H0623977 Y2 JPH0623977 Y2 JP H0623977Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
movable plate
substrate
card
stylus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP20128387U
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JPH01104571U (en]
Inventor
政司 石川
Original Assignee
武田産業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 武田産業株式会社 filed Critical 武田産業株式会社
Priority to JP20128387U priority Critical patent/JPH0623977Y2/ja
Publication of JPH01104571U publication Critical patent/JPH01104571U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0623977Y2 publication Critical patent/JPH0623977Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
JP20128387U 1987-12-29 1987-12-29 プローブカード Expired - Lifetime JPH0623977Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20128387U JPH0623977Y2 (ja) 1987-12-29 1987-12-29 プローブカード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20128387U JPH0623977Y2 (ja) 1987-12-29 1987-12-29 プローブカード

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01104571U JPH01104571U (en]) 1989-07-14
JPH0623977Y2 true JPH0623977Y2 (ja) 1994-06-22

Family

ID=31491653

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20128387U Expired - Lifetime JPH0623977Y2 (ja) 1987-12-29 1987-12-29 プローブカード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0623977Y2 (en])

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2571516B2 (ja) * 1993-05-20 1997-01-16 フレッシュクエストコーポレーション プローブカード

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5138224B2 (ja) 2003-11-17 2013-02-06 ロケット・フルーレ 水性フィルム形成性組成物の調製のための、少なくとも１つの安定化剤を含む、少なくとも１つの生分解性ポリマーの水性分散物の使用

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5138224B2 (ja) 2003-11-17 2013-02-06 ロケット・フルーレ 水性フィルム形成性組成物の調製のための、少なくとも１つの安定化剤を含む、少なくとも１つの生分解性ポリマーの水性分散物の使用

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01104571U (en]) 1989-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6586956B2 (en) Probe contract system having planarity adjustment mechanism
JPH02224259A (ja) 集積回路用プローブカードを検査する方法及び装置
US6937039B2 (en) Tip and tip assembly for a signal probe
US3537000A (en) Electrical probe including pivotable contact elements
JP3738800B2 (ja) 高さ測定装置及びその使用方法
JPH0623977Y2 (ja) プローブカード
US4055805A (en) Multi-point test probe
US6285180B1 (en) Probe adapter and holder
US4812745A (en) Probe for testing electronic components
JP2003270267A (ja) プローブユニット、プローブカード、測定装置及びプローブカードの製造方法
JPH01128535A (ja) 半導体素子測定用プローブ
JPH0645259Y2 (ja) プローブカード
JPS6236139Y2 (en])
JPH0338833Y2 (en])
JPH082617Y2 (ja) プローブ構造
JP2531042Y2 (ja) プローブヘッド
JP3005496U (ja) 電気特性検査用プローブ
JPS5819487Y2 (ja) プロ−ブ接触機構
JPH0622218Y2 (ja) 半導体用プローブヘッド
JP2531043Y2 (ja) プローブヘッドの先端構造
JP2520823B2 (ja) 半導体ウエハ―測定方法
JPH04127581U (ja) ポゴピン
JPH06140482A (ja) プローブ装置
JP2533430Y2 (ja) Ｉｃウエーハ試験用プローブカード
JPH034031Y2 (en])